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产品名称: 袖珍式表面粗糙度仪SHR110
产品型号:
产品时间: 2015-12-25
表面粗糙度测量仪SHR110是专用于测量被加工零件表面粗糙度的新型智能化检测仪器。该仪器集当今微处理器技术和传感技术于一体,以先进的微处理器和优选的高度集成化的电路设计,构成适应当今仪器发展趋势的超小型的体系结构,完成粗糙度参数的采集、处理和显示工作。SHR110表面粗糙度仪适用于多种机加工零件、机械加工制造业、检测、商检等部门

产品介绍

 

袖珍式表面粗糙度仪SHR110
       表面粗糙度测量仪SHR110是专用于测量被加工零件表面粗糙度的新型智能化检测仪器。该仪器集当今微处理器技术和传感技术于一体,以先进的微处理器和优选的高度集成化的电路设计,构成适应当今仪器发展趋势的超小型的体系结构,完成粗糙度参数的采集、处理和显示工作。SHR110表面粗糙度仪适用于多种机加工零件、机械加工制造业、检测、商检等部门,尤其适用于大型工件及生产流水线的现场检验,以及检测、计量、商检等部门的外出检定。 
一、主要特点: 
        SHR110表面粗糙度仪经过严格高温、湿度试验适应高温高湿工作环境。采用优化的电路设计及传感器结构设计,将电箱、驱动器及显示部分合为一体,使其达到高度集成化;任意选择Ra、Rz、Rt、Rq四种测量参数;不仅可测量平面、直径大于20mm(经验值)的外圆面、锥面,还可测长宽大于80×30mm的沟槽。
二、主要功能:
        ▲ 可选择4种测量参数Ra、Rz、Rt、Rq;
        ▲ 可选择取样长度0.25 ,0.80 ,2.50;
        ▲ 广泛用于金属与非金属加工表面的生产现场及外出鉴定的检测;
        ▲ 采用高速DSP处理器进行数据处理和计算,速度快,精度更高;
        ▲ 点阵LED液晶显示,高亮度,无视角,宽温度,适合各种场合;
        ▲ 具有校准功能,操作简单;
        ▲ 自动关机功能以及低功耗软硬件设计使仪器工作时间超长;
        ▲ 两种充电方式,专用充电器或计算机USB口充电,可边充电边工作,方便快捷;
        ▲ 传感器测头具有保护门,有效的保护了传感器测头,保证了测量的精度;
        ▲ 外形采用拉铝模具设计,坚固耐用,抗电磁干扰能力显著,符合当今设计新趋势。
三、技术参数:
        Ø 测量参数(μm ):Ra、Rz、Rq、Rt
        Ø 行程长度(mm):6
        Ø 取样长度(mm):0.25 ,0.80 ,2.50
        Ø 评定长度(mm):1.25 ,4.0 ,5.0
        Ø 测量范围(μm ): Ra、 Rq: 0.01 ~ 10.0
                                              Rz、 Rt: 0.1 ~ 50
        Ø 示值误差:±(7-10)%
        Ø 示值变动性: <12%
        Ø 传感器触针针尖圆弧半径及角度:针尖圆弧半径:10 μm±1 μm 
        Ø 传感器触针静测力及其变化率:触针静测力: ≤ 0.016N
                                                                 测力变化率: ≤ 800N/m
        Ø 传感器导头压力: ≤ 0.5N
        Ø 电池:3.7V锂离子电池
        Ø 外形尺寸:106 mm×70 mm×24 mm
        Ø 重量:200g
        Ø 工作环境条件:温 度: -20℃~40℃
                                    相对湿度: < 90%
                                    周围无振动、无腐蚀性介质
四、应用领域:
金属与非金属加工制造业

1.表面工程处理 2.模具铸造、精密制造
3.汽车制造及零配件加工 4.机械零部件加工及传动装置机械零部件
5.金属加工设备及机床附件、功能部件 6.冶金冶炼、轧制及锻压设备
7.气动、液压元器件及压力容器 8.通用机械及金属成形设备

粗糙度仪通用数定义:
表面粗糙度:是指加工表面上具有较小间距和峰谷所组成的微观几何形状特征。
取样长度λc:用于判别具有表面粗糙度特征的一段基准线长度。
评定长度:评定轮廓所必须的一段长度,它可以包括一个或几个取样长度。
轮廓算术平均偏差Ra :在取样长度内轮廓偏距的算术平均值
轮廓均方根偏差Rq:在一个取样长度内纵坐标值的均方根值
轮廓zui大高度Rz(ISO):在一个取样长度内,zui大轮廓峰高Rp和zui大轮廓谷深Rv之和的高度;
轮廓峰谷总高度Rt:在评定长度内zui大轮廓峰高和zui大轮廓谷深之和。

SHR110表面粗糙度仪器给出的参数符合GB/T 3505-2000《产品几何技术规范表面结构轮廓法、表面结构的述语、定义及参数》、符合GB/T6062-2002《产品几何量技术规范(GPS)表面结构、轮廓法接触(触针)式仪器的标称特性》。
附表:取样长度选择推荐表

Ra (µm) Rz (µm) 取样长度λc(mm)
>5~10 >20~40 2.5
>2.5~5 >10~20
>1.25~2.5 >6.3~10 0.8
>0.63~1.25 >3.2~6.3
>0.32~0.63 >1.6~3.2
>0.25~0.32 >1.25~1.6 0.25
>0.20~0.25 >1.0~1.25
>0.16~0.20 >0.8~1.0
>0.125~0.16 >0.63~0.8
>0.1~0.125 >0.5~0.63
>0.08~0.1 >0.4~0.5
>0.063~0.08 >0.32~0.4
>0.05~0.063 >0.25~0.32
>0.04~0.05 >0.2~0.25
>0.032~0.04 >0.16~0.2
>0.025~0.032 >0.125~0.16
>0.02~0.025 >0.1~0.125

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